INTERCOVAMEX SA DE CV

Subdirección de Recursos Materiales ( de Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del Instituto Politécnico Nacional )

DIVISIÓN DE ADQUISICIONES DE BIENES Y SERVICIOS ( de INSTITUTO POLITÉCNICO NACIONAL (OFICINAS CENTRALES) )

Subdirección de Recursos Materiales ( de Centro de Investigación y Desarrollo Tecnológico en Electroquímica, S.C. )

EQUIPO MÉDICO Y DE LABORATORIO

ADQUISICIÓN DE VARIOS EQUIPOS - LABORATORIOS NACIONALES Y CENTRAL EN ÓPTICA Y FOTONICA

Descripción detallada de las características del Sistema de Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopia Electrónica de Efecto Túnel (STM) para trabajar en condiciones de Ultra Alto Vacío (UHV) y con temperaturas variables ( VT-UHV-AFM/STM) y técnicas para caracterización de superficies metálica, semi-metálica y no-metálica: Espectroscopia Electrónica Auger normal (AES), Microscopia Electrónica de Barrido de Electrones Auger (SAM), Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) y Espectroscopia de Electrones de Energía Perdida (EELS).