Importe total
11 millones de pesos mexicanos (11,048,065.72 MXN)
Período de contrato(s)
Entre el 8 de mayo de 2004 y el Fecha desconocidaEste contrato es parte de un expediente. Ver expediente ocds-0ud2q6-29060003-001-02 en formato Open Contracting Data Standard.
Se realizan más de 20 pruebas algorítmicas a nivel contrato, que agrupamos en cuatro categorías, para determinar la calidad de los datos de contratación. La metodología puede consultarse aquí.
Este contrato no ha sido evaluado.
Coordinación de Servicios Administrativos de la Unidad Iztapalapa (Clave: 29060003 )
Estado de la convocatoria
complete
Título de la convocatoria
Descripción detallada de las características del Sistema de Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopia Electrónica de Efecto Túnel (STM) para trabajar en condiciones de Ultra Alto Vacío (UHV) y con temperaturas variables ( VT-UHV-AFM/STM) y técnicas para caracterización de superficies metálica, semi-metálica y no-metálica: Espectroscopia Electrónica Auger normal (AES), Microscopia Electrónica de Barrido de Electrones Auger (SAM), Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) y Espectroscopia de Electrones de Energía Perdida (EELS).
Título de la adjudicación
Descripción detallada de las características del Sistema de Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopia Electrónica de Efecto Túnel (STM) para trabajar en condiciones de Ultra Alto Vacío (UHV) y con temperaturas variables ( VT-UHV-AFM/STM) y técnicas para caracterización de superficies metálica, semi-metálica y no-metálica: Espectroscopia Electrónica Auger normal (AES), Microscopia Electrónica de Barrido de Electrones Auger (SAM), Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) y Espectroscopia de Electrones de Energía Perdida (EELS).
Título del contrato
Descripción detallada de las características del Sistema de Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopia Electrónica de Efecto Túnel (STM) para trabajar en condiciones de Ultra Alto Vacío (UHV) y con temperaturas variables ( VT-UHV-AFM/STM) y técnicas para caracterización de superficies metálica, semi-metálica y no-metálica: Espectroscopia Electrónica Auger normal (AES), Microscopia Electrónica de Barrido de Electrones Auger (SAM), Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) y Espectroscopia de Electrones de Energía Perdida (EELS).
Proveedor(es/as)
Monto
11 millones de pesos mexicanos (11,048,065.72 MXN)
Fecha de firma
8 de mayo de 2004
Período de ejecución
8 de mayo de 2004 a Fecha desconocida
Código interno de la adjudicación
UAMICAA-2002-LP-01
No hay datos
Fecha de actualización en QQW
9 de mayo de 2021
Fuente(s)
Forman parte del proyecto
Organización responsable de la importación